益和6632高頻阻抗分析儀50MHz7種頻(pin)率選(xuan)項（10Hz 至 1/3/5/10/20/30/50MHz），可以進行交(jiao)流信(xin)號的LCR測試(shi)，測試(shi)頻(pin)率和(he)測試(shi)級別可進行連續變化的階(jie)段測量。可在(zai)不同測試(shi)、模式條件下、進行高(gao)速地連續測試(shi)。提(ti)供輸出(chu)阻(zu)抗25?/100?可切換，ALC補償，多步測試(shi);BIN 分(fen)類及比較器功能(neng)在(zai)自動元件生產時進行良品與不良品分(fen)類。

特性：

1. 信(xin)號源頻率范圍：DC,10Hz-1/3/5/10/20/30/50MHz

2. 基本阻抗(kang)測量精度(du)±0.08%（典型值±0.05%）

3. 自動電平控制(zhi)（ALC）功能

4. 輸出阻抗25Ω/100Ω可切換

5. 提供電表模式、多(duo)步測試(shi)、圖形掃圖、等效電路模型分析

6. 內建直流偏置電(dian)壓(ya)(ya)±12V，可另選(xuan)購外(wai)掛直流偏置電(dian)壓(ya)(ya)0到±40V/電(dian)流±100mA

7. 精準量測(ce)壓(ya)電(dian)陶瓷材料之導納圓繪圖，并提供量測(ce)電(dian)容之C-V 曲線

8. 超快(kuai)量測速度<3ms(最快(kuai))

9. 開路/短路/負(fu)載(zai)校(xiao)正功能

10. 電表(biao)模式下最多可(ke)顯示(shi)四個(ge)元件參數，電感(gan)值及(ji)DCR值可(ke)同時顯示(shi)

11. 可同時量測和顯示(shi)自動元件分類：比較器功能及Hander接口 BIN分類功能

12. 并搭配多樣治(zhi)具，如：液態介電、介電治(zhi)具和導磁系數量測

13. 可搭配DC BIAS 6243/6240、6223/6220、USB Host/Device等介面

14. 支援(yuan)RS-232、GPIB、Handler、LAN、USB Host/Device等(deng)介面(mian)

15. 適用于研發、制程、實驗室等(deng)檢(jian)測領(ling)域

16. 可加購電腦連線軟體

應用：

.被動元件：電容(rong)器(qi)、電感器(qi)、電阻(zu)器(qi)、變壓器(qi)、陶瓷(ci)諧振(zhen)器(qi)、石英晶體

.半導體(ti)(ti)元件：變容二極體(ti)(ti)之CV特性分析(xi)、二極體(ti)(ti)

.介電質(zhi)材(cai)料：塑膠、陶瓷、印刷電路板的(de)電容率和損耗正切評估(gu)導磁材(cai)料

.其他元(yuan)件(jian)：電(dian)路板上的元(yuan)件(jian)阻(zu)抗評估

益和6632高頻阻抗分析儀50MHz標準配件：

.電源線

.使用手冊電子檔光碟

.FX-000C19

.高頻DIP元件測試治具

輸出阻抗 25?/100? 和自動電平控制 (ALC)

輸出(chu)阻抗(kang) 25?/100? 可(ke)以切換。自動電(dian)平控制 (ALC) 為工(gong)程(cheng)師更量測元(yuan)件。如(ru)積層陶瓷(ci)電(dian)容(rong)(MLCC)，電(dian)容(rong)值(zhi)>1uF，需打開ALC 量測， 因為電(dian)容(rong)值(zhi)在量測時有(you)可(ke)能會低于真(zhen)實的電(dian)容(rong)量。一般評估電(dian)容(rong)的參數值(zhi)有(you) Cs/Cp/D/Q/ESR/DC Bias Voltage。

介電治具/液態介電

使用介(jie)電常(chang)數(shu)(shu)測(ce)試治具 FX-0000C7，6630 內建(jian)公(gong)式直接算出(chu)材(cai)(cai)料(liao)(liao)介(jie)電數(shu)(shu)值(zhi) εr&＃39;、εr"。評(ping)估 PCB 空板或陶瓷板等(deng)。使用液態介(jie)電治具 FX-000C20，用來(lai)評(ping)估電化學(xue)材(cai)(cai)料(liao)(liao)特性分(fen)析。

導磁系數

使用(yong)導磁系數測試治(zhi)具 FX-0000C8，6630 內建(jian)公式直接算各(ge)種環形(xing)磁芯(xin)或(huo)鐵氧體磁芯(xin)及(ji)電磁屏蔽涂(tu)層材(cai)料的導磁系數 μr&＃39;、μr"。

半導體晶圓或陶瓷積層電容評估直流偏壓電壓特性

實測 Y5V 型 MLCC 元件的(de)直流偏壓特性(xing) ( 尺寸(cun)為 1206 搭載(zai)治具 FX-000C12) 在頻率 100Hz 下串聯電容值為 9.70uF，利用 6632 阻抗分析儀(yi)施加 DC Bias 電壓 ±12V，其電容值從 9.7uF 下降至 1.46uF。

等效電路模型分析(選購)

E模(mo)型(xing)適用于(yu)量測分(fen)析(xi)諧(xie)振(zhen)(zhen)器(qi)，上(shang)圖呈現出(chu)(chu)兩個(ge)共(gong)振(zhen)(zhen)頻率特(te)性。一(yi)般(ban)諧(xie)振(zhen)(zhen)器(qi)、壓(ya)電片(pian)、或傳感(gan)器(qi)等元件在分(fen)析(xi)時，有別于(yu)其它(ta)元件的(de)(de)部份在于(yu)可能有一(yi)個(ge)以上(shang)的(de)(de)共(gong)振(zhen)(zhen)頻率。例如(ru)為(wei)了使壓(ya)電材料能以的(de)(de)振(zhen)(zhen)幅出(chu)(chu)力(li)，就需要精準的(de)(de)得知諧(xie)振(zhen)(zhen)頻率的(de)(de)范圍。如(ru)上(shang)圖所示(shi)，以此(ci)模(mo)型(xing)即可明(ming)確的(de)(de)分(fen)析(xi)出(chu)(chu)兩個(ge)共(gong)振(zhen)(zhen)點間的(de)(de)頻率。

7 種不同(tong)的(de)(de)模(mo)型，結合不同(tong)類型的(de)(de)參(can)數 ( 電(dian)(dian)阻、電(dian)(dian)感、電(dian)(dian)容 )，目的(de)(de)是用三(san)個(ge)(ge)或四個(ge)(ge)元素對(dui)阻抗(kang)與頻率特性(xing)進(jin)行建模(mo)。模(mo)擬(ni)自(zi)己的(de)(de)等效電(dian)(dian)路(lu)參(can)數的(de)(de)阻抗(kang)軌跡(ji)值，然后(hou)將其與實際測量(liang)軌跡(ji)進(jin)行比(bi)較和參(can)考(kao)自(zi)諧振(zhen)頻率 (SRF)。  

PCB 板繞組電感線圈

汽(qi)車電源模組(zu)(zu)(zu)中越來越多采用多層(ceng) PCB 板(ban)繞組(zu)(zu)(zu)而(er)成電感線(xian)圈的結(jie)構，因(yin) PCB 蝕刻(ke)制(zhi)程中寄生于銅箔繞組(zu)(zu)(zu)上(shang)的寄生電容、阻值(zhi)損耗(hao)，會降低(di)整體的電感量造(zao)成共(gong)振頻率 SRF 偏(pian)移，這些 PCB 不良品可能導致成品組(zu)(zu)(zu)裝測試出(chu)現 NG，可利用 6632 測量 PCB 線(xian)圈板(ban)重要參數 L/Q/DCR/Rs/SRF。

RFID / NFC / 汽車無線天線評估阻抗特性

對于天線在實際運用上(shang)搭載周(zhou)邊的線路時，針對發射端，天線一般(ban)連接在功(gong)(gong)率放大(da)器 (PA)，另一接收端(duan)，天線會接上 LNA，對于天線的(de)的(de)特性即是阻抗的(de)匹配，達到的(de)功(gong)(gong)率輸出(chu)。
可利用(yong) 6632 阻(zu)(zu)(zu)(zu)抗分(fen)(fen)析儀等效電(dian)(dian)路模型分(fen)(fen)析，檢(jian)(jian)視天線(xian)在(zai)低(di)頻(pin)階(jie)(jie)段，如同電(dian)(dian)容(rong)特性會(hui)有高(gao)阻(zu)(zu)(zu)(zu)抗，在(zai)高(gao)頻(pin)階(jie)(jie)段如同電(dian)(dian)感性會(hui)有高(gao)阻(zu)(zu)(zu)(zu)抗，重(zhong)要的分(fen)(fen)界點為共振頻(pin)率，透過繪(hui)圖分(fen)(fen)析功能(neng)檢(jian)(jian)視寄電(dian)(dian)容(rong)與串聯(lian)等效電(dian)(dian)阻(zu)(zu)(zu)(zu)對整體阻(zu)(zu)(zu)(zu)抗特性的影響程度。

壓電元件/ 石英晶體分析頻率特性

精準量測壓電陶瓷(ci)材料之導納圓繪圖。分析壓電元件的關鍵參數如:Fs/Fp/Qm/Kp (機(ji)電耦合系數 )。

規格

參數量測范圍

應用范圍